A nyújtott szolgáltatások típusa
- Szilárd anyagok struktúrájának és szub-struktúráinak megfigyelése.
- Válogatott elektron-diffrakciós kísérletek.
- A minták képeinek értelmezése és kiértékelése.
- A diffrakciós adatok értelmezése és kiértékelése.
- Elektron-mikroszkópiás eljárásnak alávetett minták előkészítése.
Az infrastruktúrák / felszerelések típusai
- JEOL 2100F UHR típusú, 80 – 200kV gyorsítófeszültségű transzmissziós elektronmikrokszkóp. Az objektív pontfelbontása 0.19 nm, információs határérték 0.09 nm. A mikroszkóp lehetőséget biztosít az anyagok – különböző elektron diffrakció körülményei között feltárt – struktúrájára vonatkozó adatok alapján kialakított képének megismerésére.
- Oxford Instruments Xmax80 típusú EDS detektor – Röntgen spektrométer. A preparátumok vegyi összetételének megállapítására szolgál. Energiafelbontása 127 eV. Mikroszkóp részegységként van telepítve.
- JEOL tartó – az X-tengely körüli nagy dőlésszögű eltérést tesz lehetővé, +/- 60° tartományban teszi lehetővé a tomográfiai módszerrel történő adatgyűjtést.
- JEOL tartó – a Z-tengely körül 360°-ban teszi lehetővé a minta elforgatását.
- JEOL tartó – az X és Y tengelytől való +/-26 dőlési tartományban teszi lehetővé a minták diffrakciós elemzését.
- Fischione M1020 típusú plazma-elven működő tisztító berendezés – a transzmissziós elektronmikrokszkópos eljárásban vizsgált preparátumok plazma segítségével történő megtisztítására szolgál.
- JEOL Ion Slicer EM09100 – ion bombázó készülék a transzmissziós elektronmikrokszkóposeljárásban vizsgált preparátumok Ar -ionok segítségével történő végső előkészítésére szolgál.
- Quorum Q150R ES típusú gőzölő készülék – a transzmissziós elektronmikrokszkópos eljárásban vizsgált preparátumokra történő vékony szén – vagy aranyréteg felvitelére szolgál.