Pavol Jozef Safarik University in Kosice, Faculty of Science, Laboratory of transmission electron microscopy

A nyújtott szolgáltatások típusa

• Szilárd anyagok struktúrájának és szub-struktúráinak megfigyelése.
• Válogatott elektron-diffrakciós kísérletek.
• A minták képeinek értelmezése és kiértékelése.
• A diffrakciós adatok értelmezése és kiértékelése.
• Elektron-mikroszkópiás eljárásnak alávetett minták előkészítése.

Az infrastruktúrák / felszerelések típusai

• JEOL 2100F UHR típusú, 80 – 200kV gyorsítófeszültségű transzmissziós elektronmikrokszkóp. Az objektív pontfelbontása 0.19 nm, információs határérték 0.09 nm. A mikroszkóp lehetőséget biztosít az anyagok – különböző elektron diffrakció körülményei között feltárt – struktúrájára vonatkozó adatok alapján kialakított képének megismerésére.
• Oxford Instruments Xmax80 típusú EDS detektor – Röntgen spektrométer. A preparátumok vegyi összetételének megállapítására szolgál. Energiafelbontása 127 eV. Mikroszkóp részegységként van telepítve.
• JEOL tartó – az X-tengely körüli nagy dőlésszögű eltérést tesz lehetővé, +/- 60° tartományban teszi lehetővé a tomográfiai módszerrel történő adatgyűjtést.
• JEOL tartó – a Z-tengely körül 360°-ban teszi lehetővé a minta elforgatását.
• JEOL tartó – az X és Y tengelytől való +/-26 dőlési tartományban teszi lehetővé a minták diffrakciós elemzését.
• Fischione M1020 típusú plazma-elven működő tisztító berendezés – a transzmissziós elektronmikrokszkópos eljárásban vizsgált preparátumok plazma segítségével történő megtisztítására szolgál.
• JEOL Ion Slicer EM09100 – ion bombázó készülék a transzmissziós elektronmikrokszkóposeljárásban vizsgált preparátumok Ar -ionok segítségével történő végső előkészítésére szolgál.
• Quorum Q150R ES típusú gőzölő készülék – a transzmissziós elektronmikrokszkópos eljárásban vizsgált preparátumokra történő vékony szén – vagy aranyréteg felvitelére szolgál.