Univerzita Pavla Jozefa Šafárika v Košiciach, Prírodovedecká fakulta, Laboratórium transmisnej elektrónovej mikroskopie

Poskytované služby

• Pozorovania štruktúry a subštruktúry tuhých látok
• Vybrané experimenty elektrónovej difrakcie
• Interpretácia a vvhodnocovanie obrazu vzoriek
• Interpretácia a vyhodnocovanie difrakčných dát
• Príprava vzoriek pre elektrónovú mikroskopiu

Vybavenie a infraštruktúra

• Transmisný elektrónový mikroskop JEOL 2100F UHR s urýchľovacím napätím 80 až 200kV. Bodové rozlíšenie objektívu je 0.19 nm, informačný limit 0.09 nm. Mikroskop umožňuje získať obraz štruktúry materiálov a dáta v rôznych režimoch elektrónovej difrakcie.
• EDS detektor Oxford Instruments Xmax80 – Röntgenový spektrometer. Slúži na stanovenie chcemického zloženia preparátov. Energiové rozlíšenie je 127 eV. Je nainštalovaný ako súčasť mikroskopu.
• Držiak JEOL s veľkým náklonom okolo osi X- slúži na tomografický zber dát v uhlovom intervale +/- 60°.
• Držiak JEOL s rotáciou okolo osi Z – umožňuje rotáciu vzorky v medziach 360°.
• Držiak JEOL s náklonom okolo osí X a Y do +/-26°C. Slúži difrakčné analýzy vzoriek.
• Plazmová čistička Fischione M1020 – slúži na plazmové čistenie preparátov pre transmisnú elektrónovú mikroskopiu.
• Iónová bombardovačka JEOL Ion Slicer EM09100 – slúži na finálnu prípravu preparátov pre transmisnú elektrónovú mikroskopiu bombardovaním Ar iónmi.
• Naparovačka Quorum Q150R ES – slúži k nanášaniu tenkých vrstiev uhlíka alebo zlata na preparáty pre transmisnú a skenovaciu elektrónovú mikroskopiu.